Konuşmacı
Delft University of Technology (TU Delft, the Netherlands)
Said Hamdioui, Delft University of Technology (TU Delft, the Netherlands), şu etkinlikte konuşuyor: IEEE 35th Asian Test Symposium (ATS 2026) (Kaohsiung, Taiwan, 1–3 Dec 2026) in the session “Tutorial 1: When Conventional Tests Go Blind: Device-Aware Test for Tomorrow’s Chips”.
1–3 Dec 2026Kaohsiung, Taiwan
Qualcomm Technologies, Inc.
National Tsing Hua University, Taiwan
Synopsys
Taiwan Semiconductor Manufacturing Company (TSMC), San Jose, CA
MJC
Siemens EDA
Bu profil kongre.net'te yayımlanan konferans programlarından derlenmiştir. Said Hamdioui tarafından sahiplenilmemiş veya onaylanmamıştır ve yalnızca bu programlarda adı geçen konuşmaları, oturumları ve sunumları listeler.
Bu siz misiniz? Bu profili sahiplenin — her talep, bağlantı kurulmadan önce bir kişi tarafından okunur.
Düzeltme veya bu profilin kaldırılmasını istemek için şu adrese yazın: [email protected].